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導電薄膜片狀電阻成像 – EddyCus® map 2530SR

更新時間:2023-11-23

瀏覽次數:912

EddyCus® map 2530系列

 

EddyCus® map 2530系列在非接觸模式下自動測量大型樣品的薄層電阻,最大可達300 x 300 mm2(12 x 12英寸)。在手動定位樣品后,設備會自動測量并顯示整個樣品區域的薄層電阻的精確圖譜。測量設置允許輕松靈活地選擇低于1分鐘的快速測量時間或超過10萬個測量點的高空間測量分辨率。

 

特征

技術:非接觸式渦流

通過多點測繪成像

定位區域:300 mm x 300 mm

采樣區域:300 x 300 mm

推薦的樣品尺寸。1英寸到12英寸或25到300毫米

 

類型

片狀電阻成像 – EddyCus® map 2530SR [mOhm/sq, Ohm/sq, OPS]

金屬厚度成像 – EddyCus® map 2530MT [nm, µm, mm, mil]

電阻率和電導率成像 – EddyCus® map 2530RM [mOhm*cm, MS/m]

Anisotropy imaging – EddyCus® map 2530A (MD/TD)

濕涂層厚度和殘余水分成像 – EddyCus® map 2530HF [%]

 

軟件和設備控制

 

非常方便用戶的軟件

實時測繪

易于使用的統計分析選項

預先定義的測量和產品配方(尺寸、間距、閾值)。

線掃描、直方圖和區域分析

黑色和彩色的圖像編碼

Csv和pdf輸出

PC匯總和輸出

3個用戶級別

用于參數轉換的材料數據庫

邊緣效應補償

數據的存儲和導入

輸出數據集(例如,輸出到EddyEva、MS Excel、Origin)。


片狀電阻成像 – EddyCus® map 2530SR [mOhm/sq, Ohm/sq, OPS]



2530.png


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